Kiểm tra quang học tự động DC-500AOI
Kiểm tra quang học tự động (AOI) là công nghệ hình ảnh không tiếp xúc tiên tiến, cung cấp độ phân giải <3μm cho việc kiểm soát chất lượng quan trọng trong sản xuất điện tử. Nó cho phép:
Kiểm tra xác thực lắp ráp PCB theo tiêu chuẩn IPC-A-610 Loại 3
Phát hiện lỗi trên tấm nền LCD (vết mờ/hạt/điểm ảnh chết)
Kiểm tra bao bì bán dẫn (độ phẳng của chân QFN/BGA)
- Phát hiện lỗi
- Đo lường kích thước
- định vị chính xác
- Nhận dạng & Phân loại
- Dữ liệu thông minh
- Đặc điểm kỹ thuật
- Lông chim
- Tải về
Kiểm tra quang học tự động có thể phát hiện những khiếm khuyết và lỗi phổ biến sau đây:
- Khuyết tật hàn:
- Mở mạch
- Cầu hàn
- Quần short hàn
- Không đủ mối hàn (không phải gót mối nối)
- Hàn quá mức
- Các khiếm khuyết của thành phần:
- Chân nâng lên
- Thiếu thành phần
- Các thành phần không thẳng hàng hoặc đặt không đúng vị trí
- Giá trị thành phần không chính xác
- Lỗi BGA và CSP:
- Quần short BGA
- Kết nối mở BGA
- Các khuyết tật đặc điểm bề mặt:
- Vết sưng, vết xước và vết bẩn
- Dấu vết bị phá vỡ
- Lỗi in kem hàn:
- Có hoặc không có, không thẳng hàng, hàn không đủ hoặc quá nhiều, mạch hở, nhiễm bẩn, v.v.
- Lỗi lắp ráp linh kiện:
- Thiếu linh kiện, đặt sai vị trí, nghiêng, linh kiện thẳng đứng, linh kiện đứng nghiêng, linh kiện bị lật, đảo ngược cực, linh kiện sai, hư hỏng, v.v.
- Lỗi mối hàn:
- Hàn quá nhiều, hàn không đủ, không có hàn, hàn nguội, đoản mạch, bi hàn, nâng, v.v.
- Khiếm khuyết khác:
- Vật lạ, lỗ xốp, hư hỏng do vết lõm, màu sắc, đốm trắng, khuyết tật cắt, sứt mẻ, vết bẩn, vết nứt, v.v.
🔍 Công nghệ AOI dòng DC-500
Giải pháp dành riêng cho ngành:
- Kiểm tra SMT/PCBA: Phát hiện 01005 thành phần ở độ phân giải 15μm
- Điện tử ô tô: Theo dõi lỗi tuân thủ IATF 16949
- Thiết bị Y khoa: Báo cáo được xác thực theo FDA 21 CFR Phần 11
- tấm bán dẫn: Phát hiện hạt ≤3nm
⚙️ Thông số kỹ thuật của động cơ quang học
Hệ thống hình ảnh:
- Cảm biến Sony IMX 5.1MP
- Đèn vòm có thể lập trình RGB
- Ống kính telecentric có độ méo 0.001%
- Chiếu sáng đồng trục để phát hiện lỗ rỗng nhỏ
Nhận dạng lỗi AI:
- Thuật toán thị giác máy xác định:
✓ Vết nứt/vết xước dưới 10μm (IPC-A-610 Loại 3)
✓ Độ lệch linh kiện 0.02mm
✓ Các điểm hàn bất thường (rỗng/không đủ độ ướt) - Phân loại học sâu: Độ chính xác 99.98%
📊 Điểm nổi bật về hiệu suất
| Khả Năng | Hiệu suất AOI của DC-500 |
| Tốc độ kiểm tra | 25 cm²/giây |
| Tỷ lệ phát hiện khuyết tật | 99.95% (theo IPC-T-650) |
| Tỷ lệ cuộc gọi sai | Nhỏ hơn 0.1% |
| Phát hiện lỗ hổng BGA | >95% tương quan với X-quang |
Phạm vi kiểm tra quang học tự động toàn diện
| Giai đoạn kiểm tra | AOI-Các lỗi có thể phát hiện |
|---|---|
| Kem hàn AOI | Sự vắng mặt/sai lệch, thiếu hụt/thừa, bắc cầu, ô nhiễm |
| Thành phần AOI | Các thành phần bị thiếu/không thẳng hàng/bị lỗi, đảo ngược cực, các bộ phận sai |
| Mối hàn AOI | Hàn không đủ/thừa, hàn cầu, mối hàn nguội |
| Hàn sóng AOI | Xác minh keo dán màu đỏ |
| AOI xuyên lỗ | Hàn không đủ, chì nhô lên, lỗ thủng, cầu nối |
Biểu đồ so sánh sản phẩm không đạt chuẩn và đạt yêu cầu

🔍 Kiểm tra quang học tự động phát hiện:
1. Lỗi hàn (Theo IPC-A-610)
Mở • Cầu • Quần short
Hàn không đủ (Hở gót chân) • Hàn quá nhiều • Mối hàn lạnh
2. Bất thường thành phần
Bia mộ • Thiếu bộ phận • Không thẳng hàng
Giá trị không chính xác • Đảo ngược cực tính • Nâng cao dây dẫn
3. Lỗi gói nâng cao
BGA/CSP: Ngắn mạch • Mở • Rò rỉ (>15% tương quan với tia X)
QFN: Độ lệch • Lỗi làm ướt chu vi
4. Lỗi tính năng PCB
Trầy xước/Vết bẩn • Vết vỡ • Mặt nạ hàn bị bong tróc
Nhiễm bẩn • Các vết nứt nhỏ (phát hiện <10μm)
5. Lỗi kem hàn
Đăng ký sai • Tiền gửi không đủ/quá nhiều
Bôi bẩn • Tắc nghẽn khuôn in (tương quan với SPI)
6. Lỗi trong quá trình lắp ráp
Linh kiện bị thiếu • IC bị lệch hướng • Dây bị cong
Gói hàng bị hư hỏng • Vị trí đặt bộ phận không đúng
7. Độ lệch quy trình quan trọng
Vật lạ • Rỗng • Hư hỏng do lõm
Cặn trắng • Tách lớp • Mẻ mép
⚙️ Số liệu hiệu suất AOI
| Loại khiếm khuyết | Độ chính xác phát hiện | Độ phân giải |
|---|---|---|
| Cầu hàn | 99.97% | 20μm |
| Chuyển đổi thành phần | 99.95% | 15μm |
| BGA làm mất hiệu lực | 99.2% (có chụp X-quang) | 5% âm lượng |
| Vết nứt | 99.8% | Chiều dài 30μm |
Thông số kỹ thuật của máy kiểm tra quang học tự động Layana
Phát hiện vết xước: thuật toán sẽ tìm kiếm các sọc tối có độ dài xác định trong khu vực mục tiêu và tính toán giá trị độ sáng trung bình của khu vực sọc tối.

Thuật toán có thể được sử dụng để phát hiện vết xước, vết nứt, v.v. trên bề mặt phẳng.

Phán đoán thông minh: Thuật toán này thu thập nhiều mẫu hình ảnh đủ tiêu chuẩn và không thuận lợi, thiết lập mô hình phán đoán thông minh thông qua quá trình đào tạo và tính toán mức độ tương đồng của các hình ảnh cần đo.

Thuật toán này mô phỏng chế độ suy nghĩ của con người và khó phát hiện ra vấn đề với một số thuật toán truyền thống. Bạn có thể xử lý dễ dàng. Ví dụ: phát hiện điểm hàn đỉnh, phát hiện bi thiếc đặt lại, phát hiện cực tính của các thành phần tròn, v.v.

Động cơ quang học AOI dòng DC-500
Hệ thống hình ảnh AOI chính xác:
Camera AOI độ phân giải cao (5MP+)
Công nghệ chiếu sáng AOI mái vòm ba màu
Ống kính telecentric cho hình ảnh không bị biến dạng
Chiếu sáng LED đồng trục để phát hiện khuyết tật bề mặt
Nhận dạng lỗi AOI nâng cao:
Thuật toán thị giác máy phát hiện:
✓ Vết xước/vết nứt dưới 10μm
✓ Độ lệch đồng phẳng của thành phần
✓ Các bất thường ở mối hàn vi môCông cụ phân loại AOI hỗ trợ AI
Cấu hình phần cứng:
- Kích thước: 40 × 40mm~450 × 330mm (có thể tùy chỉnh kích thước lớn hơn theo yêu cầu của khách hàng)
- Độ dày: 0.3mm đến 6mm
- Trọng lượng ván: ≤ 3KG
- Kiểm tra thông số kỹ thuật PCB: chiều cao thông thủy trên ≤ 35mm, chiều cao thông thủy dưới ≤ 70mm (có thể tùy chỉnh theo yêu cầu đặc biệt)
- Thành phần thử nghiệm tối thiểu: Thành phần 0201, IC có khoảng cách 0.3 mm trở lên (tùy chọn lên đến thành phần 01005)
Nếu cần, vui lòng liên hệ với chúng tôi.









